光学粗糙度测试

健明迪检测提供的光学粗糙度测试,检测项目:光学粗糙度测试,检测标准参考:SJ/T11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法,具有CMA,CNAS认证资质。
光学粗糙度测试
我们的服务 光学粗糙度测试

检测流程

1、寄样

2、免费的初检

3、报价表

4、两方确认,签署保密协议书,开使试验

5、7-10个工作日左右完成试验

6、中后期服务,邮寄检测报告!

我们的检测有哪些优势?

产品评估:成分分析,分析成分比例,改善生产缺陷,提升产品品质性能

政府监管:工商检测,市场监督,项目投标招标,申请退税基金等

上市品控:保证自己的产品能顺利进入各种电商品台,商超等

打通市场:增强企业的认知可信度,扩大市场占有率,提高企业竞争力,彰显产品品质

工业诊断:为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准参考

DIN ISO 10110-8-2012光学和光子学 光学元件和系统的制图准备 第8部分:表面结构:粗糙度和波纹

GB/T 1185-2006光学零件表面疵病

GOST 4.449-1986产品质量指标体系 检验粗糙度和表面质量的光学机械式检测仪器 指标名称表

GOST 9847-1979测量表面粗糙度参数用光学仪器 型式和基本参数

SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

VDI/VDE 2655-1.1-2008微地貌的光学测量 粗糙度测量基准显微镜和深度调节标准的校准

检测样品:光学部件,晶片等

检测项目:光学粗糙度测试

检测周期:7-15个工作日(参考周期)

检测项目:光学粗糙度测试,检测标准参考:SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法。
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