外延片检测

检测流程

1、寄样。(咨询工程师主要样品量要求，给我们科研所寄样)

2、免費初检。(接收到样品以后免費初检小样)

3、价格表。(初检以后依据用户检验要求及其科学试验复杂度做好价格表)

4、签订合同保密协议书。(两方签订合同保密协议书，支付支付款)

5、開始科学试验。

6、7-15个工作日左右完成科学试验。

7、中后期业务。

我们的检验优点

1、能为客户快速制定试验方案并且快速完成实验项目

2、庞大的数据库储备，除了已知物质，对于未知物质分析有着更丰富的经验

3、检测周期短，检测费用低，实验方案齐全

4、工程师根据客户需求提供定制化实验方案

5、36种语言编写MSDS报告服务

6、多家实验室分支，支持上门取样/寄样检测服务

第三方产品检验报告作用

产品评估：成分分析，分析成分比例，改善生产缺陷，提升产品品质性能

政府监管：工商检测，市场监督，项目投标招标，申请退税基金等

上市品控：保证自己的产品能顺利进入各种电商品台，商超等

打通市场：增强企业的认知可信度，扩大市场占有率，提高企业竞争力，彰显产品品质

工业诊断：为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准参考

GB/T 1550-2018非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T 8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 12964-2018硅单晶抛光片

GB/T 14015-1992硅-兰宝石外延片

GB/T 14139-2019硅外延片

GB/T 14844-2018半导体材料牌号表示方法

GB/T 19921-2018硅抛光片表面颗粒测试方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

GB/T 24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T 26066-2010硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

GB/T 30453-2013硅材料原生缺陷图谱

GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法

GB/T 30655-2014氮化物LED外延片内量子效率测试方法

GB/T 30854-2014LED发光用氮化镓基外延片

GB/T 30857-2014蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法

GB/T 32279-2015硅片订货单格式输入规范

GB/T 35308-2017太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片

GB/T 35310-2017200mm硅外延片

GB/T 36613-2018发光二极管芯片点测方法