硅离子检测

检测流程

1、寄样

2、免费的初检

3、报价表

4、两方确认，签署保密协议书，开使试验

5、7-10个工作日左右完成试验

6、中后期服务，邮寄检测报告!

我们的检测有哪些优势?

产品评估：成分分析，分析成分比例，改善生产缺陷，提升产品品质性能

政府监管：工商检测，市场监督，项目投标招标，申请退税基金等

上市品控：保证自己的产品能顺利进入各种电商品台，商超等

打通市场：增强企业的认知可信度，扩大市场占有率，提高企业竞争力，彰显产品品质

工业诊断：为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准参考

UOP 796-2009用感应耦合等离子体-发射光谱法测定石油液体中硅含量

ASTM C871-2011e1可滤去氯化物、氟化物、硅酸盐及钠离子的绝热材料化学分析的试验方法

ASTM D5184-2012用灰化、熔化、电感耦合等离子原子发射光谱测定法和原子吸收光谱测定法确定燃料油中铝和硅的试验方法

ASTM D6130-2011通过感应耦合等离子-原子发散光谱术对发动机冷却剂中硅和其它元素测定的标准试验方法

ASTM ISO 916-1993用感应耦合等离子体-美国电化学协会法测定硅催化剂中钯、金和钾

ASTM UOP 796-2009用感应耦合等离子体-发射光谱法测定石油液体中硅含量

BS 2000-377-1995(R2004)石油及其产品的试验方法.石油产品.燃料油中铝和硅的含量测定.电感耦合等离子体发散和原子吸收光谱法

BS DD-ENV 14226-2002高科技陶瓷制品 陶瓷粉末的试验方法 使用火焰原子吸收光谱法(FAAS)和感应耦合等离子体原子发射摄谱术(ICP-ES)测定氮化硅中的钙,镁,铁和铝

BS EN 13468-2001建筑设备和工业设施用隔热制品 水溶性氯化物、氟化物、硅酸盐、钠离子和pH值的微量测定

BS ISO 14237-2010表面化学分析.次级离子质谱法.使用非均一掺杂材料的硅中硼原子的浓度测定

BS ISO 17560-2002表面化学分析 次级离子质谱法 硅中硼深度压型的方法

BS ISO 17560-2002(R2010)表面化学分析 次级离子质谱法 硅中硼深度压型的方法

CB/T 4390.9-2013螺旋桨用高锰铝青铜化学分析方法 第9部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法

DB37/T 4201-2020水泥中氯离子含量快速筛查检测法

DD ENV 14226-2002高科技陶瓷制品 陶瓷粉末的试验方法 使用火焰原子吸收光谱法(FAAS)和感应耦合等离子体原子发射摄谱术(ICP-ES)测定氮化硅中的钙,镁,铁和铝

DIN 38405-21-1990德国水.废水与淤泥的统一研究方法;阴离子(D组)溶解硅酸的分光光度测定(D21)

DIN EN ISO 21079-3-2008含氧化铝、氧化锆和二氧化硅的耐火材料的化学分析 含5%-45%氧化锆的耐火材料(代替X射线荧光法) 第3部分:火焰原子吸收分光光度法(FAAS)和电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)

DIN EN 13468-2001建筑设备和工业安装用绝热产品.水溶氯、氟、硅和钠离子和PH的痕量测定

DL/T 677-2018发电厂在线化学仪表检验规程

DL/T 1370-2014石灰石元素的测定 微波消解-等离子体发射光谱法