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CEI EN 60749-19/A1-2011半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:芯片剪切强度
CEI EN 60749-19-2004半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:芯片剪切强度.第一版
GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度
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