芯片强度测试

健明迪检测提供的芯片强度测试,检测项目:粘结强度,剪切强度,抗压强度等,检测标准参考:GB/T4937.19-2018半导体器件机械和气候试验方法第19,具有CMA,CNAS认证资质。
芯片强度测试
我们的服务 芯片强度测试

检测流程

1、寄样

2、免费的初检

3、报价表

4、两方确认,签署保密协议书,开使试验

5、7-10个工作日左右完成试验

6、中后期服务,邮寄检测报告!

我们的检测有哪些优势?

产品评估:成分分析,分析成分比例,改善生产缺陷,提升产品品质性能

政府监管:工商检测,市场监督,项目投标招标,申请退税基金等

上市品控:保证自己的产品能顺利进入各种电商品台,商超等

打通市场:增强企业的认知可信度,扩大市场占有率,提高企业竞争力,彰显产品品质

工业诊断:为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准参考

CEI EN 60749-19/A1-2011半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:芯片剪切强度

CEI EN 60749-19-2004半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:芯片剪切强度.第一版

GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度

检测样品:芯片材料

检测项目:粘结强度,剪切强度,抗压强度等

检测周期:7-15个工作日(参考周期)

检测项目:粘结强度,剪切强度,抗压强度等,检测标准参考:GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度。
我们的服务
行业解决方案
官方公众号
客服微信

为您推荐
硝酸离子检测

硝酸离子检测

含氢量测试

含氢量测试

离子污染

离子污染

成焦板试验

成焦板试验