碳化硅单晶检测

检测流程

1、寄样

2、免费的初检

3、报价表

4、两方确认，签署保密协议书，开使试验

5、7-10个工作日左右完成试验

6、中后期服务，邮寄检测报告!

我们的检测有哪些优势?

产品评估：成分分析，分析成分比例，改善生产缺陷，提升产品品质性能

政府监管：工商检测，市场监督，项目投标招标，申请退税基金等

上市品控：保证自己的产品能顺利进入各种电商品台，商超等

打通市场：增强企业的认知可信度，扩大市场占有率，提高企业竞争力，彰显产品品质

工业诊断：为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准参考

GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片

GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法

GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法

SJ/T 11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法

SJ/T 11500-2015碳化硅单晶晶向的测试方法

SJ/T 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法

SJ/T 11502-2015碳化硅单晶抛光片规范

SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

SJ/T 11504-2015碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

SJ 20858-2002碳化硅单晶材料点学参数测试方法

SJ 21122-2016PVTSiC76SI1-BP01型碳化硅单晶抛光片规范

SJ 21441-2018SiC-HPSI 型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范

T/IAWBS 001-2017碳化硅单晶

T/IAWBS 005-20186 英寸碳化硅单晶抛光片

T/IAWBS 010-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法

T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法

T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法