电磁辐射测试

检测流程

1、寄样

2、免费的初检

3、报价表

4、两方确认，签署保密协议书，开使试验

5、7-10个工作日左右完成试验

6、中后期服务，邮寄检测报告!

我们的检测有哪些优势?

产品评估：成分分析，分析成分比例，改善生产缺陷，提升产品品质性能

政府监管：工商检测，市场监督，项目投标招标，申请退税基金等

上市品控：保证自己的产品能顺利进入各种电商品台，商超等

打通市场：增强企业的认知可信度，扩大市场占有率，提高企业竞争力，彰显产品品质

工业诊断：为您解决工艺、材料中的未知物定性定量分析服务

检测标准

ASA S2.20-1983估计单一点空中爆炸空气爆炸特征和测量大气电磁辐射传播和影响

BS EN 60255-25-2000继电器.测量继电器和保护设备的电磁辐射试验

BS EN 61967-1-2002集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量 第1部分:一般条件和定义 IEC 61967-1:2002

BS EN 61967-4-2002集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量 第4部分:传导辐射的测量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002

BS EN 61967-5-2003集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量 第5部分:传导辐射的测量 工作台法拉第机架法

CEI 47-1025-V1-2011集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探针法

CEI EN 61967-1-2002集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义

CEI EN 61967-2-2006集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第2部分:辐射辐射的测量，瞬变电磁室和宽带瞬变电磁室法.第一版

CEI EN 61967-4-2009集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量. 1欧姆/150欧姆直接耦合法

CEI EN 61967-5-2004集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第5部分:传导辐射的测量.工作台法拉第笼法.第一版

CEI EN 61967-6-2009集成电路. 150千赫至1千兆赫电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探针法

CEI EN 61967-8-2012集成电路.电磁辐射测量.第8部分:辐射测量.集成电路带状线法

DIN 32780-100-2002防护服.第100部分:频率范围80MHz～1GHz防电磁辐射服

DIN EN 61967-2-2006集成电路 150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量 第2部分:放射辐射的测量 TEM单元和宽带TEM单元方法

DIN EN 61967-6-2008集成电路 150kHz-1GHz电磁辐射的测量 第6部分:传导辐射的测量 磁探针法

DIN EN 61967-8-2012集成电路 电磁辐射的测量 第8部分：放射辐射的测量 IC带状线法

GB/T 3102.6-1993光及有关电磁辐射的量和单位

GB 4706.29-2008家用和类似用途电器的安全 便携式电磁灶的特殊要求

GB 13614-2012短波无线电收信台(站)及测向台(站)电磁环境要求

GB 13618-1992对空情报雷达站电磁环境防护要求