1、寄样
2、初检样品
3、报价
4、双方确定,签订保密协议,开始实验。
5、结束实验
6、邮寄检测报告
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.1
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.2
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.3
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.7
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半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.12
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.15
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-20184.17
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1101-1103
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-20211101
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212015.2
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212003.2
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212011.2
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-20211015.1
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20211005.1
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212004.3
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-20211010.1
电压调整率SV,电流调整率SI,电源纹波抑制比Srip,耗散电流ID,耗散电流变化AID,短路电流IOS,基准电压VREF,最小输入输出电,压差VDROP,输出电流限制llimit,输出电压VO,键合强度,剪切强度,耐溶剂性,可焊性,键合强度(破坏性键合拉力试验),老炼试验,稳态寿命,引线车固性,温度循环,耐湿,密封,机械冲击,扫频振动,恒定加速度,盐雾(盐汽),静电放电敏感度的分级,粒子碰撞噪声检测试验,高温贮存
检测周期:7-15个工作日,试验可加急
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