地质仪器长霉试验

DZ 0039.1-1992 地质仪器产品基本环境试验条件及方法 总则
DZ 0039.14-1992 地质仪器产品基本环境试验条件及方法 长霉试验
GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉
GB/T 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉
GB/T 32065.9-2019 海洋仪器环境试验方法 第9部分：长霉试验
CB 1146.9-1996 舰船设备环境试验与工程导则 霉菌
JB/T 5750-2014 气象仪器防盐雾、防潮湿、防霉菌 工艺技术要求

长霉试验就是检测产品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生长的条件下（即高湿温暖的环境中和有无机盐存在的条件下），设备是否受到霉菌的有害影响。 地质仪器长霉试验目的在于确定其在有霉菌生长地区使用、运输和贮存时，长霉程度对产品及其材料性能的影响，以评价产品对长霉的适应性。
健明迪检测可靠性实验中心具备各种地质仪器产品的环境试验能力，为地质仪器产品提供专业的长霉试验服务。

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试验方法1：经过28 d培养以后，确定：
1、外观检查确定霉菌生长程度；
2、长霉引起的物理损伤；
3、长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。如果相关规范要求检查功能和/或测量电性能，培养期应延长至56 d。
试验方法2：用营养液对样品预处理后，进行为期28 d的培养，确定：
1、外观检查确定霉菌生长程度；
2、长霉引起的物理损伤；
3、长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。
通过使用营养液来模拟污染未长霉的样品，会降低样品表面的防霉性能。
如果检查功能和/或测量电气性能，宜考虑该影响。 使用营养液就会发生长霉，如果没有长霉，宜考虑防霉剂的影响。