光学仪器砂尘试验

1、试样暴露期间，其光学表面应用各种措施防止砂尘的影响，如防尘罩。罩盖方式应在相关标准中规定。若试样在暴露时光学表面不必罩盖，则应在有关标准中加以说明。
2、试验箱（室）应具有一定的空间以保证试样的占有面积不大于试验箱（室）横截面积（与空气流动方向垂直的面积）的50%，体积不超过试验箱（室）有效体积的50%。
3、矿物砂尘应由边缘锐利的微粒组成，其中 SiO2质量分数应不小于97%。

光学和光子学仪器砂尘试验目的是研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到砂尘影响的变化程度。
健明迪检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的砂尘试验等环境试验服务。

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GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-1：2016光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
GB/T 12085.6-2022 光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘
ISO 9022-6：2015光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘
KS B ISO 9022-6：2015光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘
DIN ISO 9022-6：2015光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘
BS ISO 9022-6：2015光学和光子学 环境试验方法 第6部分：砂尘

所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备）