通信用光电子器件机械冲击试验
健明迪检测提供的通信用光电子器件机械冲击试验，通信用光电子器件机械冲击试验 试验范围 1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，具有CMA，CNAS资质。
通信用光电子器件机械冲击试验 试验范围
1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。
通信用光电子器件机械冲击试验 试验标准
GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.10 半导体器件机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
GB/T 4857.11-2005 包装 运输包装件基本试验 第11部分：水平冲击试验方法
GB/T 4857.15-2017 包装 运输包装件基本试验 第15部分：可控水平冲击试验方法
GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验 第2-81部分：试验方法 试验Ei：冲击 冲击响应谱合成
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.10 半导体器件机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
GB/T 4857.11-2005 包装 运输包装件基本试验 第11部分：水平冲击试验方法
GB/T 4857.15-2017 包装 运输包装件基本试验 第15部分：可控水平冲击试验方法
GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验 第2-81部分：试验方法 试验Ei：冲击 冲击响应谱合成
通信用光电子器件机械冲击试验 试验背景
机械冲击是指机械系统或其中的一部分受到突然、急剧、非周期性的激励时，发生的时间甚快于系统固有振动周期的状态的骤然变化。信用光电子器件机械冲击试验可评估光电子器件经受装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生冲击的承受能力。
健明迪检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的机械冲击试验服务。
健明迪检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的机械冲击试验服务。
通信用光电子器件机械冲击试验 试验方法
按以下程序进行试验：
a）试验前应对试样的主要光电特性进行测试；
b）将试样外壳刚性地固定在冲击台上，应适当地保护外壳上引线或光纤，并采取措施防止由于设备的“弹跳”而产生的重复冲击；
c）按规定的试验条件，选择所需脉冲在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2方向上各承受5次冲击。对于其内部元件的主基座平面与Y轴垂直的器件，应把该元件趋向于脱出其安装基座的方向规定为Y方向。
a）试验前应对试样的主要光电特性进行测试；
b）将试样外壳刚性地固定在冲击台上，应适当地保护外壳上引线或光纤，并采取措施防止由于设备的“弹跳”而产生的重复冲击；
c）按规定的试验条件，选择所需脉冲在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2方向上各承受5次冲击。对于其内部元件的主基座平面与Y轴垂直的器件，应把该元件趋向于脱出其安装基座的方向规定为Y方向。
